Skaneeriv elektronmikroskoopia | Camfil Õhufiltrid

Skaneeriv elektronmikroskoopia

Camfili skaneeriv elektronmikroskop(SEM), mis asub meie laboratooriumis Trosas, on ehtne näide meie pühendumusest uuringu ja arenduse vallas. See unikaalne  seade võimaldab meil uurida kuni 50nm (=0,00005mm) suurusi saasteaineid, mida leidub kasutatud filtrites ja õhu näidistes. Mikroskoopi kasutatakse klientide hüvanguks ja uute filtri materjalide hindamiseks.

Loading samples Free flying particles
Particles in filter

Pildid ülevalt alla, vasakult paremale:

  1. Näidiste lisamine skaneerivasse elektronmikroskoopi 
  2. Õhu näidis koos imepisikeste osakestega, mis tulevad liikluses olevatest heitgaasidest
  3. Tahked osakesed, mille filter kinni on püüdnud

 

Kontakt

Meid leida on lihtne

Contact details
Indoor Air Quality